〈SEMICON〉致茂：AI晶片對缺陷是零容忍 檢量測已變剛性需求

標題: 〈SEMICON〉致茂：AI晶片對缺陷是零容忍 檢量測已變剛性需求

作者: 鉅亨網記者魏志豪 台北
發表時間: 2026-08-12 16:48:00


描述: AI 晶片效能持續提升，也同步拉高測試、量測與檢測的重要性。致茂 (2360 - TW) 執行長兼總經理與 SEMI 檢測與計量委員會主席曾一士指出，AI 產品整合多項技術，系統複雜度遠高於過去，只要其中任何一個零件發生

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