國科會首創半導體檢測技術有助加速先進製程研發｜公視新聞網 PNN

標題: 國科會首創半導體檢測技術有助加速先進製程研發｜公視新聞網 PNN

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發表時間: 2026-07-16 14:34:26

先進製程半導體國科會技術檢測研發 2奈米製程台灣台灣大學接觸體檢

描述: AI帶動高效能、低功耗晶片需求，半導體製程加速邁向埃米世代。國科會成功開發全球首創的臨場剖面掃描顯微檢測技術，可即時觀測二維半導體與金屬接觸界面，突破過去只能間接量測的限制。研究團隊表示，距離大規模產業應用仍有一段路，但有助加速先進製程研發。

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