iPhone Duo 耐用測試未過關 彎折測試後內螢幕現永久綠線

標題: iPhone Duo 耐用測試未過關 彎折測試後內螢幕現永久綠線


作者: Doris
發表時間: 2026-10-25 02:42:41

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Apple 的 iPhone Duo 在 JerryRigEverything 最新的耐用測試中未能過關。這款手機雖具備 IP68 防塵等級,灰塵仍經多個進入點滲入鉸位,令保持機身閉合的磁鐵失效;隨後的彎折測試更在內螢幕留下永久綠線,螢幕最終失去反應。

鉸位多處入塵致磁力失效

測試顯示,iPhone Duo 的鉸位並非單一缺口出事,灰塵循多個進入點滲入,最終令負責吸附機身、維持閉合狀態的磁鐵不勝負荷,無法正常發揮作用。

彎折測試後內螢幕失靈

在入塵問題之後,彎折測試令內螢幕出現一道橫貫畫面的永久綠線,其後螢幕進一步失去反應,未能繼續正常操作。

內螢幕耐刮僅達第 2 級

刮擦測試方面,採用 Ceramic Shield 2 的外螢幕在莫氏硬度第 7 級才出現刮痕,內螢幕則僅在第 2 級已被刮花。測試亦對內螢幕的霧面奈米紋理塗層予以肯定,指其令刮痕「神奇地消失」,但整體表現仍不足以取得合格評價。

JerryRigEverything 的 Nelson 表示,他自七年前第一代以來一直測試這類摺疊手機,「大部分都能存活」,但「iPhone Duo 則不能」。

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